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簡(jiǎn)要描述:手持式 LIBS激光誘導擊穿系統,采用激光誘導擊穿光譜,專(zhuān)用于金屬和合金的碳分析。其檢測速度快、性能好、體積小、方便攜帶。能夠攜帶到大型儀器不方便出入的位置,應用場(chǎng)景更加廣闊,操作人員可以執行材料可靠性鑒別 (PMI) 來(lái)分析面臨流量加速腐蝕或硫化腐蝕問(wèn)題的管道材料,幾秒內就能驗證管道、閥門(mén)以及反應容器的成分。其錐形前端有助于提高覆蓋范圍,能夠測量難以觸及的區域
品牌 | 創(chuàng )譜科技 | 應用領(lǐng)域 | 地礦,能源,冶金,制藥 |
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LIBS激光誘導擊穿光譜系統
LIBS(Laser-Induced Breakdown Spectroscopy)激光誘導擊穿光譜系統是將超短脈沖激光聚焦在樣品表面形成等離子體,利用光譜儀對等離子體發(fā)射光譜進(jìn)行分析,識別樣品中的元素組成成分,可以進(jìn)行材料的識別、分類(lèi)、定性以及定量分析。
LIBS檢出限很大程度上取決于被測樣品的類(lèi)型、元素種類(lèi)、以及激光器和光譜儀的具體選型配置?;谝陨显?,LIBS的檢出限可以從幾ppm一直到%級的范圍。在大多數常規應用中,對于絕大多數元素,LIBS檢出限可以做到10 ppm到100 ppm。在定量分析中,通過(guò)LIBS獲得的測量結果的相對標準偏差可以達到3-5%以?xún)?,而對于均質(zhì)材料通??梢缘?%以?xún)壬踔?lt;1%。
優(yōu)秀特點(diǎn)
?3X180MM超長(cháng)續航,確保全天候運行
?輕量化機身設計,更加輕便,便于攜帶
?適用于元素檢測、分層樣本解析、巖礦元素分布及含量測定、鋁材檢測
技術(shù)優(yōu)勢
?廣泛的元素分析范圍包括Z<12輕的元素(如C, H, O, N, Li, Be, B)和重元素
?實(shí)驗室LIBS系統:包括激光器,光譜儀,光路采集系統,三維位移臺聯(lián)動(dòng)控制系統,雙相機圖像聯(lián)動(dòng)采集系統等
?LIBS光譜采集分析軟件,元素尋峰匹配識別和在線(xiàn)元素濃度預測,元素濃度定量分析建模和分析軟件(峰高法,峰面積法,峰高比,峰面積比)
?分析速度快幾秒鐘到幾分鐘
?幾乎不需要樣品準備時(shí)間,可分析固體樣品甚至是粉末(或者是輔料或粘合劑)
?無(wú)需反應試劑、更環(huán)保、更安全
?比其他的元素分析儀器需要更少的樣品
?微米級別的深度分析和立體繪圖
?微觀(guān)分析到宏觀(guān)分析,定向而靈活的定點(diǎn)精確分析
?定性的樣品分類(lèi)或者定量的元素濃度
?可以配置多種激光器和光譜采集探頭選項,以適應您的需求
?大多數元素檢出限為10 ppm到幾十ppm
軟件截圖
軟件功能
手持式 LIBS 激光誘導擊穿光譜系統附帶免費的客戶(hù)端軟件,提供強大的工具來(lái)下載測試數據、編輯牌號庫、生成測試報告和編譯校準文件。對于高級用戶(hù),提供了非常有用的附加功能來(lái)滿(mǎn)足用戶(hù)的專(zhuān)業(yè)要求。
LIBS通常的檢出限
?Li, Be, B, Na, Mg, Al, K, Ca等元素>10ppm即0.001%
?Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Mo等元素>100ppm即0.01%
?C, N, O, P, Si等元素>200ppm即0.02%
?F, Cl, Br, S等元素>0.5%
技術(shù)參數
型號 | TrLIBS-HH |
激光器 | 3B 類(lèi) 1064nm 無(wú)源固態(tài)激光器 |
光譜儀 | 分辨率:<0.2nm;光譜范圍:250~415nm |
單次測試時(shí)間 | ~1s |
合金基體 | 鋁基、鎂基、鋅基、銅基(黃銅、青銅)、低合金鋼、合金鋼、不銹鋼、鈦基、鈷基、鎳基 |
可測試元素 | Al、B、Be、Bi、Co、Cr、Cu、Fe、Li、Mg、Mn、Mo、Nb、Ni、Pb、Si、Sn、Ti、V、Zn、Zr |
樣品種類(lèi) | 圓柱體、薄板、直徑 1mm 以上線(xiàn)材、箔片(~0.02mm),大碎片(無(wú)粉末) |
顯示 | 4.0 英寸電阻式觸摸屏,320*480 像素 |
儲存器 | 標準 8GB,可升級至 16GB |
防水性能 | IP54 防水防塵等級 |
安全性 | 物理激光安全互鎖裝置 |
工作溫度 | 0-40℃(建議 5-35℃) |
尺寸/重量 | 227mm x 86mm x 234mm,1.25Kg |